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| NICOMP 3000 | |||
| INSTRUMENT | |||
| INTRODUCTION | |||
| 纳米激光粒度仪仪器介绍 | |||
| Laser Nanoparticle Sizer Analyzer | |||
| Nicomp 3000纳米激光粒度仪系列 | |||
| ·N3000纳米粒度分析仪 | |||
| ·Z3000纳米粒度及ZETA电位分析仪 | |||
| Nicomp 380 系列纳米激光粒度仪采用动态光散射原理检测分析样品的粒度分布。基于多普勒电泳光散射原理（Doppler Electrophoretic Light Scattering，DELS）检测ZETA电位。其主要用于检测额纳米级别及亚微米级别的体系，粒径检测范围0.3nm-10μm，ZETA电位检测范围为+/-500mV。动态光散射方法（DLS）从传统的光散射理论中分离，关注光强随着时间的波动行为。我们通过光强值的波动得到自相关函数，从而获得衰减时间常量 T，根据公式换算获得粒子的扩散速度 D（Diffusion，扩散系数） | |||
| Nicomp 3000 |  |
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| 实验型产品系列 | |||
| 仪器型号 | |||
| · | ●Nicomp N3000纳米粒度分析仪 | ||
| ●Nicomp Z3000纳米粒度及ZETA电位分析仪 | |||
| 工作原理 | |||
| ●动态光散射 | |||
| 检测范围 | |||
| ●粒径检测∶0.3nm~10.0μm | |||
| ●zeta电位∶-500mV~+500mV | |||
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Stokes-Einstein方程∶ D=kT/6rnR D=扩散系数 T=温度 R=粒子半径 η=粘度 k=玻尔兹曼常数 |
模块化设计 Modular design
自动进样及自动稀释模块 自动化采样可以满足高通量采样要求;操作简单高效，节省时间成本和人力成本。
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| 图1：DLS检测原理 | |||
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| NICOMP 3000 | |||
| TECHNICAL | |||
| ADVANTAGES | |||
| 技术优势 | |||
| Nicomp 多峰分布 | |||
| Nicomp multimodal distribution | |||
| Nicomp动态光散射（DLS）系统可检测0.3 nm到10μm的粒度分布及zeta电位。Nicomp 系统搭载着专利的 Nicomp 多峰算法，解决了复杂体系样本颗粒分布检测的难题。更重要的是，它可以将一个次峰从主峰的尾巴中分离出来，帮助研究人员确定样本主要成分的颗粒度大小。当尝试开发新材料时，这是一个至关重要的参数，这将很大程度上影响产品的最终性能。 | |||
| 下图为同一复杂体系样品分别在高斯算法和Nicomp算法所呈现的结果。 | |||
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图1∶高斯粒径分布图
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图2∶Nicomp多峰粒径分布图
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ZETA电位模块的超高灵敏度
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UItra-high sensitivity of ZETA potential module
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| ZETA电位电势是粒子表面电荷，这也是分散体系稳定性的重点评估依据。ZETA电位接近零的分散体通常不稳定，容易聚集或者相分离。ZETA电位的绝对值越高，表明稳定性越好。 Nicomp使用基于相位分析光散射（PALS）技术来测量粒子运动，非常的灵敏。测量可以在低电场强度下进行，这对敏感型样品，如蛋白质或其他生物分子来说要温和得多。 ZETA电位最常见的用途是间接反映体系稳定性，判断基团修饰结果。ZETA电位是非常重要的指标，可分析哪种配方随着时间的推移会更稳定。 |
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图3∶ZETA电位电势模型图
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图4∶等电点及电位与pH值的关系图
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| NICOMP 3000 | ||||
| INSTRUMENT | ||||
| ADVANTAGES | ||||
| 仪器优势 | ||||
| 全面的权限管理 |  |
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| Comprehensive rights management | ||||
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灵活设置用户管理权限，增加安全性。可设置密码复杂度，自动登出时间，密码修改时限，满足CSV计算机系统验证。 | |||
| 完整的审计追踪 |  |
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| Complete audit trail | ||||
| 具备详细的审计追踪记录，支持日志导出打印，记录用户登录期间所有操作，可根据操作类型、时间、项目等检索。 | ||||
| 多种数据备份方式 |  |
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| Multiple data backup methods | ||||
| 数据备份支持手动、自动备份到指定文件路径。备份内容包含完整数据内容、操作方法、审计追踪记录日志等。 | ||||
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| NICOMP Z3000 | |||
| Nanoparticle size analyzer | |||
| ZETA Potential Analyzer | |||
| 纳米粒度及ZETA电位分析仪 | |||
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INSTRUMENT | ||
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PARAMETERS | ||
| 仪器参数 | |||
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Nicomp Z3000纳米粒度及ZETA电位分析仪
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| 配置 |
Basic基础款
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Plus 高配款
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温度范围
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0℃~90℃（±0.1℃控温精度，无冷凝）
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标准激光
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15mW激光光源
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35mW激光光源
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pH值范围
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1~14
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粒度
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分析方法
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动态光散射，Gaussian分布和Nicomp多峰分布
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检测范围
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3nm~10μm
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最小样品量
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10μL
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最大浓度
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40%w/V |
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测量角度
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90°
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多角度 （10°~175°，包含90°，步进0.7°） |
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分子量
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342-2*107 Da
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| Zeta电位 | |||
| 分析方法 |
多普勤频谱分析法/相位分析法
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| 适用粒径 |
0.3nm~100μm
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| 电位范围 |
>±500mV
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| 最大浓度 | 40%w/v | ||
| 测量角度 | -14.9° | ||
| 附件 | |||
| 检测器 |
PMT（光电倍增管）
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APD（雪崩二极管）
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样品池
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科研级软件
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| 双列直插式钯电极
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21CFR Part11软件
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自动进样模块
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自动稀释模块
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多角度检测模块
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| 尺寸 |
56cm*4lcm*24cm
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| 重量 |
约26kg（与配置相关）
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| 注：以实际样品为准 | ■标配，随箱自带 | □选配，单独购买 | |