Nicomp® 3000
纳米激光粒度仪

0.9°步进型多角度（MADLS）真正的多角度模块

不同粒径的纳米粒子，尤其是粒径远小于激光波长的粒子在传统的动态光散射理论下，力度分布（PSD）会失去一些细节。Entegris（PSS）Nicomp® 3000 系列开创性地配备了可以从14.4°-180°范围内，步长0.9°的多角度模块，对特殊样品（如极小粒径）可以选用合适的角度进行检测，显著提高对复杂体系的分辨力。

复用型直插靶电级，减少耗材成本

Zeta电位检测模块，采用双列直插式靶电极，清洁方便，易于清洗，可以反复使用。既保护了环境，也大大减少了使用一次性可丢弃的电极模块的成本。

专有的Nicomp®多峰分布，可分辨1:2的多组分

Entegris（PSS）Nicomp® 3000系列搭载了Nicomp®多峰算法，可以有效区分不同粒径（1：2的不同组分），为复杂体系和多组分体系提供了强有力的生产工具。

（下图为同一复杂体系样品分别在高斯算法和Nicomp®算法所呈现的结果）

高斯粒径分布图

Nicomp®多峰粒径分布图

自动稀释模块和自动进样模块，减少试错成本和人工误差

Entegris（PSS）Nicomp® 3000 系列率先在动态光散射法上应用了自动稀释模块和自动进样模块，既可以有效避免人工稀释所带来的试错成本和误差，更可以实现检测的自动化操作，为大批量的检测提供了良好的解决方案。

Nicomp® 3000系列设备检测原理图

Nicomp® 3000系列纳米激光粒度仪采用动态光散射原理检测分析样品的粒度分布。基于多普勒电泳光散射原理（Doppler Electrophoretic Light Scattering，ELS）检测ZETA电位。其主要用于检测纳米级别及微米级别的体系，粒径检测范围0.3nm-10μm，ZETA电位检测范围为±500mV。动态光散射方法（DLS）从传统的光散射理论中分离，关注瑞利散射区的小颗粒，主要用于检测纳米级别的分散体系。动态光散射是通过光强值的波动得到自相关函数，从而获得衰减时间常量τ，进而计算获得粒子的扩散速度D（Diffusion Coefficient，扩散系数），代入Stokes-Einstein方程式，就可以计算得到颗粒的半径。

Zeta电势电位测定：Nicomp® Z3000结合了动态光散射技术（DLS）和电泳光散射法（ELS）,实现了同机测试亚微米粒子分布和ZETA电势电位。ELS是将电泳和光散射结合起来的一种新型光散射，它的光散射理论基础是准弹性碰撞理论，在实验时通过在样品槽中外加一个外电场，带电粒子即会以固定速度向与带电粒子电性相反的电极方向移动，与之相应的动态光散射光谱产生多普勒漂移，这一漂移正比于带电粒子的移动速度，因此由实验测得的谱线的漂移，就可以求得带电粒子的电泳速度，从而得到电位值。通过测试颗粒之间的排斥力，判断体系稳定性的测量手段之一。

相位分析法（PALS）:用相位（Phase）变化的分析取代原先频谱的漂移，不仅使Zeta电位分析的精度及稳定性有了显著的提高，而且突破了水相体系的限制，对有机相体系同样能提供Zeta电位的精确分析。